廣東艾思荔是一家從事開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)和生產(chǎn)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),冷熱沖擊試驗(yàn)箱。我們的宗旨是為客戶提供具國(guó)際規(guī)要求的可靠度環(huán)境檢測(cè)設(shè)備與其相關(guān)的試驗(yàn)技術(shù)。客戶產(chǎn)業(yè)遍及于電工電子、半導(dǎo)體、光電、通訊、航天、機(jī)械、實(shí)驗(yàn)室、汽車(chē)等科技產(chǎn)業(yè)。從產(chǎn)品研發(fā)到售后服務(wù)，每一個(gè)環(huán)節(jié)本著客戶至上，質(zhì)量的服務(wù)宗旨，充分利用多年從事環(huán)境檢測(cè)工程與可靠性工程的技術(shù)，為客戶提供耐用、美觀的檢測(cè)設(shè)備，確保產(chǎn)品性能穩(wěn)定及設(shè)備的壽命超出客戶的期望。以助客戶提升質(zhì)量，降低成本，增加市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。我們關(guān)注客戶提出的所有有關(guān)環(huán)境試驗(yàn)的問(wèn)題，根據(jù)客戶的不同要求，為用戶提供具有優(yōu)性的產(chǎn)品和服務(wù)，客戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，原與您攜手共創(chuàng)輝煌。
我們研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的設(shè)備有冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),冷熱沖擊試驗(yàn)箱,led冷熱沖擊試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)廠家,冷熱沖擊試驗(yàn)儀等等。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品特性:
1．產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究。
2．設(shè)備分為高溫室、低溫室、測(cè)試室三部分，采特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物完全靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。
3．采用觸控式液晶（LCD）顯示人機(jī)介面控制器，的計(jì)測(cè)裝置，操作簡(jiǎn)單，學(xué)習(xí)容易，穩(wěn)定可靠，中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
4．具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范立設(shè)定，沖擊時(shí)間999小時(shí)59大分鐘，循環(huán)周期1～999次可設(shè)定，可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行。
5．箱體左側(cè)具Ø50mm測(cè)試孔1個(gè)，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):
高溫沖擊3箱：Rt℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN
低溫沖擊3箱：RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN
高溫沖擊2箱：-40℃~ +150℃/5 MIN  -55℃~ +150℃/5 MIN  -65℃~ +150℃/5 MIN
低溫沖擊2箱：+150℃~ --65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN
預(yù)熱時(shí)間：25MIN  30MIN  45MIN  40MIN  50MIN  40MIN   50MIN
預(yù)冷時(shí)間：60MIN  75MIN  80MIN  85MIN  85MIN  90MIN   100MIN
預(yù)熱溫度：+ 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃
預(yù)冷溫度: - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃
高溫沖擊: + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃
低溫沖擊：-10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃
溫度分布均勻度：±2.00℃ 以內(nèi)（UNDER ±2.00℃）
仿真負(fù)載（KG）：2.5  2.5  5  5  5  5   10.0

箱體結(jié)構(gòu)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱全部功能采用計(jì)算機(jī)控制，系自主開(kāi)發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時(shí)更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時(shí)間的參數(shù)，使制冷、加熱、提籃傳送切換，按設(shè)定值自動(dòng)進(jìn)行。冷箱、熱箱立控制，箱門(mén)互相立，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用圍（一箱三用）產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。
控制系統(tǒng)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主控制器采用進(jìn)口雙回路高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時(shí)間、加熱器工作狀態(tài)，PID參數(shù)自整定功能。控制程序的編制采用人機(jī)對(duì)話方式，僅需設(shè)定溫度，就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)行功能，控制系統(tǒng)具備完善的檢測(cè)裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。
設(shè)定精度：溫度：0.1℃ 時(shí)間:1S用戶程序容量：10×99段。運(yùn)行方式：程序運(yùn)行，恒定運(yùn)行。立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。
制冷系統(tǒng)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī)：為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口法國(guó)全封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷制冷系統(tǒng)。復(fù)疊式冷系統(tǒng)包含一個(gè)高溫制冷循環(huán)和一個(gè)低溫制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器也到能量傳遞的作用，將工作室內(nèi)熱能通過(guò)兩級(jí)制冷系統(tǒng)傳遞出去，實(shí)現(xiàn)降溫的目的，制冷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù)，一種行之有效的式既能保證在制冷機(jī)組正常運(yùn)行的情況下又能對(duì)制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效的調(diào)節(jié)，使制冷系統(tǒng)的運(yùn)行費(fèi)用和故障率下降到較為經(jīng)濟(jì)的狀態(tài)。制冷工作原：高冷循環(huán)均采用逆循環(huán)，該循環(huán)由兩個(gè)等溫過(guò)程和兩個(gè)絕熱過(guò)程組成。
其過(guò)程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換，將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時(shí)制冷劑溫度降低。后制冷劑通過(guò)蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的。
R404A(高溫循環(huán)）、R23(低溫循環(huán)）；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱性能參數(shù)系統(tǒng):
1．采用進(jìn)口微電腦大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。
2．高程序記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存 120 組程序，大循環(huán)設(shè)定 9999 Cycles，每段時(shí)間大設(shè)定 999 Hrs 59Mins。
3．具有RS-232通訊界面及連接軟件，可于電腦熒幕上設(shè)計(jì)程序、收集測(cè)試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行、可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制。
4．可立設(shè)定高溫、低溫、及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽式或二槽式之功能，具備高低溫試驗(yàn)箱的功能。
5．可在預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間控制中自動(dòng)提前預(yù)熱、預(yù)冷待機(jī)，并可選擇起始位置，由高溫或低溫開(kāi)始循環(huán)或溫度沖擊，另具備設(shè)定循環(huán)次數(shù)擴(kuò)自動(dòng)除霜功能。
6．出風(fēng)口與回風(fēng)口傳感器檢知控制，風(fēng)向柵門(mén)機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10s內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5min鐘內(nèi)完成。
7．具有溫度線懷直流信號(hào)輸出到溫度記錄器，以了解測(cè)試條件之狀態(tài)，進(jìn)而提高檢測(cè)信賴(lài)度。
8．運(yùn)轉(zhuǎn)中發(fā)行異常狀況，熒幕上即刻自動(dòng)顯示故障原因及提供排除方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置。
9．冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，采用進(jìn)口壓縮機(jī)組，并使用環(huán)保冷媒。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：(W×H×D) (mm)
TS-49 內(nèi)箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440
TS-80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440
TS-100 內(nèi)箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
TS-150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
TS-250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
TS-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
溫度范圍：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃
電 源：∮5W AC38O±10% 50/60HZ
高溫室：預(yù)熱溫度范圍，RT+20℃~200℃
升溫時(shí)間：+20℃~+200℃約30min
低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃
降溫時(shí)間：+20℃~-80℃約80min
實(shí)驗(yàn)室沖擊：溫度均勻度±2.0℃
冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱主要有三種方式：
1、三箱式冷熱沖擊(氣態(tài))：試驗(yàn)設(shè)備有三個(gè)箱體(高溫區(qū)、常溫區(qū)、低溫區(qū))，測(cè)試過(guò)程中樣品處于常溫區(qū)不動(dòng)，只是通過(guò)高溫區(qū)與常溫區(qū)的風(fēng)門(mén)，低溫區(qū)與常溫區(qū)的開(kāi)關(guān)來(lái)達(dá)到冷熱沖擊的效果。
2、兩箱式?jīng)_擊(液態(tài))：試驗(yàn)設(shè)備有兩個(gè)箱體(高溫區(qū)、低溫區(qū))，高溫區(qū)與低溫區(qū)分別盛入硅油，樣品放在一個(gè)吊籃中，通過(guò)吊籃的高溫區(qū)和低溫區(qū)的移動(dòng)達(dá)到冷熱沖擊的效果。
3、兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)(氣態(tài))：試驗(yàn)設(shè)備有兩個(gè)箱體(高溫區(qū)、低溫區(qū))，樣品放在一個(gè)吊籃中，通過(guò)吊籃在高溫區(qū)和低溫區(qū)的移動(dòng)達(dá)到冷熱沖擊的效果。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱操作說(shuō)明
對(duì)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱而言，操作無(wú)疑是非常重要的，因?yàn)樵谑褂眠^(guò)程中的許多故障都是因?yàn)殄e(cuò)誤操作而引起的，嚴(yán)重的可能還會(huì)給設(shè)備帶來(lái)無(wú)法換回的傷害。為了避免這類(lèi)情況的出現(xiàn)，我們?cè)谑褂弥耙欢ㄒ屑?xì)閱讀設(shè)備的操作說(shuō)明。
1、不要用水噴淋、沖洗設(shè)備，也不要將設(shè)備放置在潮濕、易濺上水的地方，以免影響設(shè)備的電氣絕緣性能。
2、不要讓箱體壓住電源線或人為踩踏電源線。
3、當(dāng)電源線出現(xiàn)破損或插頭出現(xiàn)磨損時(shí)切勿使用。電源線磨損或損壞，須由電工人員根據(jù)設(shè)備標(biāo)牌供電要求更換。
4、非特制設(shè)備內(nèi)，嚴(yán)禁放入易燃、易爆的危險(xiǎn)品，及強(qiáng)腐蝕性的酸、堿等。
5、本產(chǎn)品為試驗(yàn)設(shè)備，按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，不能用于設(shè)備功能范圍外的其他用途
6、在設(shè)備附近，切勿存放或使用汽油及其它易燃物品，以免引起火災(zāi)。
7、為保證安全，建議不要在設(shè)備臺(tái)面上放置電源插座、穩(wěn)壓電源等電器；也不要在設(shè)備內(nèi)部使用電器（推薦型號(hào)除外），以免發(fā)生電磁干擾或其他意外。
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